YC-3117三维芯片测量系统
YC-3117多极磁环测量装置（三维芯片测量）YC-3117多极磁环测量装置，采用三维高斯计结合自动四轴运动平台，对物体进行磁场分布扫描的仪器；测量X、Y、Z三个方向的磁场，并计算磁场矢量方向，绘制X-Y 曲线图、极坐标曲线、三维坐标曲线、三维角度图、频谱图等。（A平台） YC…
YC-3117多极磁环测量装置
（三维芯片测量）
YC-3117多极磁环测量装置，采用三维高斯计结合自动四轴运动平台，对物体进行磁场分布扫描的仪器；测量X、Y、Z三个方向的磁场，并计算磁场矢量方向，绘制X-Y 曲线图、极坐标曲线、三维坐标曲线、三维角度图、频谱图等。
（A平台）
YC-3117多极磁环测量装置，按照需求分为两种标配平台，A平台适用于小规格桌面摆放，B平台为较大型规格立式摆放。
（B平台）
YC-3117多极磁环测量装置，满足每条曲线3.6万点数据输出，一次自动测量高达150次，包含XYZ三个方向一共450条波形，使二维和三维成像表达非常细腻。
组合磁铁的扫描
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三维磁场角度测量
测试模式
通过改变探头固定方式和样品夹具，系统可支持永磁体内外表面、上端面、Z轴线性（适用于外表面）、和平面扫描 等多种测试模式，可对样品表面磁性进行全方位自动扫描，并通过图形直观的观察样品表面磁场强度分布情况，系统的来评估和优化磁性元件。
